检测信息
碳化钨测针是一种由碳化钨硬质合金材料制成的精密接触式测量探针，广泛应用于半导体晶圆测试、印制电路板通断检测及精密模具测量领域。其凭借高硬度、高耐磨性和良好的导电性能，承担着电信号传输和物理形貌探测的关键作用。
对碳化钨测针进行检测的主要目的是评估其几何尺寸精度、力学性能及表面完整性，涉及光学测量、材料力学测试及表面粗糙度分析等技术手段，以确保其在高频次接触测试中的可靠性和使用寿命。
检测流程涵盖外观缺陷筛查、针尖曲率半径测量、抗弯强度测试及导电性能验证等核心参数，通过系统化测试数据比对判定其是否符合精密测试作业的技术规范要求。
碳化钨测针检测项目
- PCB板测试用碳化钨探针
- 悬臂梁式碳化钨测试探针
- 垂直式碳化钨测试探针
- 刀片型碳化钨测针
- 鹰嘴型碳化钨测试针
- 锥形碳化钨测针
- 球形针尖碳化钨测针
- 微型高频测试碳化钨探针
- 大电流承载碳化钨测针
- 耐磨型高硬度碳化钨测针
- 纳米级针尖碳化钨测针
- 常规晶圆探针卡用碳化钨针
- 老化测试板用碳化钨测针
- 负载板用碳化钨测试探针
- 高温环境测试用碳化钨探针
- 精密模具测量用碳化钨探针
- 硬度计压头用碳化钨测针
- 接触式轮廓仪用碳化钨测针
- 定制异形碳化钨测试探针
- 镀金碳化钨测试探针
- 镀镍碳化钨测针
检测标准（部分）
- QB/T 4365-2012 碳化钨饰品
- YS/T 1847-2026 镍基碳化钨耐磨焊条
- YS/T 1735-2025 镍包碳化钨复合粉
- YS/T 511-2014 钴-碳化钨复合粉
- QB/T 4433-2012 圆珠笔用碳化钨球珠
- JB/T 7779-2026 银碳化钨石墨电触头技术规范
- JB/T 12073-2014 银碳化钨电触头材料技术条件
- HS/T 56-2017 球形碳化钨硬质合金粉的鉴定方法
- HB 7627-1998 爆炸喷涂碳化钨、碳化铬耐磨涂层质量检验
- GB/T 2967-1989 铸造碳化钨
- KS B 1567(2022 Confirm)(2022) 초경 강구
- KS B 1567-1987(2022) 초경 강구
- KS B 1567-1987(2017) 초경 강구
- YS/T 511-2006 钴包碳化钨复合粉
- SAE AMS7879G Tungsten Carbide-Cobalt Powder
- SJ/T 10168.4-1991 碳化钨铜合金
- GB/T 3991-1983 钴包碳化钨复合粉
- SAE AMS7881B Tungsten Carbide-Cobalt Powder, Agglomerated and Sintered
- SAE AMS7882D Tungsten Carbide-Cobalt Chrome Powder, Agglomerated and Sintered
- JB/T 7779-2008 银碳化钨（12）石墨（3）电触头技术条件
总结
碳化钨测针检测涵盖尺寸精度、力学性能、导电特性及表面缺陷等内容，验证探针在精密测试中的可靠性。中析检测中心旗下实验室旗下实验室拥有CMA、CNAS、ISO等检验检测资质。报告可用于质量评估与项目验收。